Unlike many other commercial testers, the Retro Chip Tester does not yet implement a test for the 74123, a „Dual Retriggerable One-Shot with Clear and Complementary Outputs“.

In my opinion, such a device can only be tested in a meaningful way if the necessary external components are also connected, which is not always the case with these tests.

I looked at the tests of two well-known testers: BeeProg2 and TL-866. Both testers claim to be able to test this device and both testers use vectors to describe the tests:

With the BeeProg2 the test looks like this:

000HL0XG000HL0XV
110HL0XG110HL0XV
010HL0XG010HL0XV
111HL0XG111HL0XV
000HL0XG000HL0XV
101HL0XG101HL0XV

The TL-866 uses very similar vectors:

000HLLZG000HLLZV
110HLLZG110HLLZV
010HLLZG010HLLZV
111HLLZG111HLLZV
000HLLZG000HLLZV
101HLLZG101HLLZV

The 74123 contains two multivibrators, so the pinout for the first multivibrator is:

Pin 1 = A1
Pin 2 = B1
Pin 3 = CLR1
Pin 4 = /Q1
Pin 13 = Q1
Pin 14 = Cext
Pin 15 = Rext/Cext

To make it easier to identify the pins, the non-relevant information has been removed from the tests:

BeeProg2:

000H--------L0X- # deaktiviert mit clear, Q1=L, /Q1=H
110H--------L0X- # deaktiviert mit clear, Q1=L, /Q1=H
010H--------L0X- # aktiviert mit clear, Q1=L, /Q1=H
111H--------L0X- # deaktiviert, Q1=L, /Q1=H
000H--------L0X- # deaktiviert mit clear, Q1=L, /Q1=H
101H--------L0X- # deaktiviert, Q1=L, /Q1=H

Cext is GND
Rext/Cext ist undefined (MPU is switched to input mode)

The test of the TL-866 is comparable, only Rext/Cext is „open“ (and not on GND):

000H--------LLZ-
110H--------LLZ-
010H--------LLZ-
111H--------LLZ-
000H--------LLZ-
101H--------LLZ-

Cext is "open" (MPU is switched to input mode)
Rext/Cext is connected with Vcc using a pullup

The inputs A1/B1/CLR are used as enable. An impulse is triggered when A1=L, B1=H and CLR1=H… Just this exact combination is not part of the above vectors!

If we take a closer look at the test vectors, we find that either the selected A/B combination always disables the device, or in the one case where A/B could read a pulse, CLR is enabled.

An error has also crept in here, because if CLR had not already been set to „0“ in the previous step, an impulse would actually (unintentionally) be triggered, since the vectors are evaluated from left to right and after B was applied and before CLR is set to „0“, the inputs could possibly have a valid state for a pulse.

How do the testers deal with the external components? Cext would need to be connected to Rect/Cext with a capacitor, Rext with a resistor to Vcc. The Beeprog2 has Rext/Cext undefined (probably the pin on the MPU is switched to input) and connects Cext to GND, the TL-866 at least connects Rext/Cext to Vcc with a pullup and leaves Cext „open“ (pin on the MPU switched to input).

Here the TL-866 behaves correctly with regard to Rext/Cext, since a pullup is used as Rext, with regard to Cext, the BeeProg2 behaves correctly, which puts Cext to ground. If you are testing without external components, then a combination of both would be desirable, i.e. Cext to GND and Rext/Cext to „Z“, i.e. via pullup to Vcc. Only the capacitor would be missing. Due to the lack of capacitance, the pulse should then be triggered immediately (i.e. for a few ns). Definitely too fast to be able to detect him.

The main function of this IC is to trigger a pulse for a certain time. The time is determined by the capacitor and the resistor. However, the vectors above show that neither a pulse is emitted whose time can be measured, nor that the device is operated within its specification.

To put it simply: the inputs are “strummed” a bit and no combination triggers an impulse, the two outputs do not change their state with any test vector.

My conclusion: The 74123 tests implemented in these testers make no sense from a functional point of view. Comments are welcome.

Update 5.11.2021

I was made aware of the ELV tester by a user. This does not use vector-based tests, but a language similar to Pascal. Although this tester cannot reliably test the 74123 either, it at least triggers an impulse that is tested for. After that, the condition must fall back again within a certain period of time. This is not ideal, but it is much better than what the two testers mentioned above deliver as a result.

Im Gegensatz zu vielen anderen kommerziellen Testern implementiert der Retro Chip Tester bisher keinen Test für den 74123, einen „Dual Retriggerable One-Shot with Clear and Complementary Outputs“.

Meiner Meinung nach kann ein solcher Baustein nur dann sinnvoll getestet werden, wenn die notwendigen externen Komponenten auch beschaltet werden, was aber durchweg bei diesen Tests nicht der Fall ist.

Ich habe mir hierzu die Tests von zwei bekannten Testern angesehen: BeeProg2 und TL-866. Beide Tester geben vor diesen Baustein testen zu können und beide Tester verwenden Vektoren, um die Tests zu beschreiben:

Beim BeeProg2 sieht der Test wie folgt aus:

000HL0XG000HL0XV
110HL0XG110HL0XV
010HL0XG010HL0XV
111HL0XG111HL0XV
000HL0XG000HL0XV
101HL0XG101HL0XV

Der TL-866 verwendet ganz ähnliche Vektoren:

000HLLZG000HLLZV
110HLLZG110HLLZV
010HLLZG010HLLZV
111HLLZG111HLLZV
000HLLZG000HLLZV
101HLLZG101HLLZV

Der 74123 enthält zwei Multivibratoren, daher ist die Pinbelegung für den ersten Multivibrator:

Pin 1 = A1
Pin 2 = B1
Pin 3 = CLR1
Pin 4 = /Q1
Pin 13 = Q1
Pin 14 = Cext
Pin 15 = Rext/Cext

Um die Pins leichter identifizieren zu können, wurden die nicht relevanten Informationen aus den Tests entfernt:

BeeProg2:

000H--------L0X- # deaktiviert mit clear, Q1=L, /Q1=H
110H--------L0X- # deaktiviert mit clear, Q1=L, /Q1=H
010H--------L0X- # aktiviert mit clear, Q1=L, /Q1=H
111H--------L0X- # deaktiviert, Q1=L, /Q1=H
000H--------L0X- # deaktiviert mit clear, Q1=L, /Q1=H
101H--------L0X- # deaktiviert, Q1=L, /Q1=H

Cext ist GND
Rext/Cext ist undefiniert (MPU ist auf Eingang geschaltet)

Der Test des TL-866 ist vergleichbar, nur Rext/Cext ist „offen“ (und nicht auf GND):

000H--------LLZ-
110H--------LLZ-
010H--------LLZ-
111H--------LLZ-
000H--------LLZ-
101H--------LLZ-

Cext ist "offen" (MPU ist auf Eingang geschaltet)
Rext/Cext ist mit Pullup nach Vcc

Die Eingänge A1/B1/CLR werden als Enable verwendet. Ein Impuls wird ausgelöst, wenn A1=L, B1=H und CLR1=H… Nur genau diese Kombination ist nicht Teil der obigen Vektoren!

Wenn wir uns die Testvektoren genauer ansehen, stellen wir fest, dass entweder durch die gewählt A/B-Kombination der Baustein immer deaktiviert ist oder in dem einen Fall, wo A/B einen Impuls auslesen könnte, ist CLR aktiviert.

Dabei hat sich hier auch noch ein Fehler eingeschlichen, denn wäre im Schritt davor CLR nicht schon auf „0“ gelegt, würde tatsächlich (ungewollt) ein Impuls ausgelöst werden, da die Vektoren von links nach rechts ausgewertet werden und nachdem B angelegt wurde und bevor CLR auf „0“ gelegt wird, u.U. die Eingänge auf einen gültigen Zustand für einen Impuls haben könnten könnten.

Wie gehen die Tester mit den externen Komponenten um? Cext müsste mit einen Kondensator mit Rect/Cext verbunden werden, Rext mit einem Widerstand nach Vcc. Der Beeprog2 ist Rext/Cext undefiniert (vermutlich ist der Pin an der MPU auf Eingang geschaltet) und legt Cext auf GND, der TL-866 legt zumindest Rext/Cext mit einem Pullup auf Vcc und lässt Cext „offen“ (Pin an der MPU auf Eingang geschaltet).

Hier verhält sich der TL-866 bzgl. Rext/Cext korrekt, da ein Pullup als Rext verwendet wird, bzgl. Cext verhält sich der BeeProg2 korrekt, der Cext auf Masse legt. Wenn schon ohne externe Komponenten getestet wird, dann wäre eine Kombination aus beiden wünschenswert, also Cext auf GND und Rext/Cext auf „Z“, also per Pullup auf Vcc. Damit würde nur der Kondensator fehlen. Durch die fehlende Kapazität sollte der Impuls dann direkt (d.h. für ein paar ns) ausgelöst werden. Auf jeden Fall zu schnell, um ihn detektieren zu können.

Die Hauptfunktion dieses ICs besteht darin, für eine bestimmte Zeit einen Impuls auszulösen. Durch den Kondensator und den Widerstand wird die Zeit festgelegt. Die obigen Vektoren zeigen aber, dass weder ein Impuls abgegeben wird, dessen Zeit man messen könnte, noch der Baustein innerhalb seiner Spezifikation betrieben wird.

Einfach ausgedrückt: Es wird ein wenig an den Eingängen „herumgeklimpert“ und bei keiner Kombination wird ein Impuls ausgelöst, die beiden Ausgänge verändern bei keinem Test-Vektor ihren Zustand.

Mein Fazit: Die in diesen Testern implementieren 74123 Tests machen aus funktionaler Sicht keinen Sinn. Kommentare sind herzlich willkommen.

Update 5.11.2021

Ich bin von einem User auf den ELV-Tester aufmerksam gemacht worden. Dieser verwendet keine vektorbasierte Tests, sondern eine Pascal ähnliche Sprache. Zwar kann auch dieser Tester den 74123 nicht verlässlich testen, aber er löst zumindest einen Impuls aus auf den getestet wird. Danach muss der Zustand innerhalb einer gewissen Zeit wieder zurückfallen. Das ist nicht optimal, aber sehr viel besser als das, was die beiden o.g. Tester als Ergebnis liefern.

Update 25.5.2022

Die Firmware v22 implementiert Tests für 74121, 74122, 74123, 74130, 74221, 74422, 74423 und 8T22, 4098, 4528, 4538 mithilfe eines Adapters, der einen externen Kondensator und Widerstand bereitstellt. Der Test prüft das Timing und zeigt die gemessene Verzögerung an.