Die Rev.7 meines Speichertesters ist seit heute fertiggestellt. Der Tester bietet gegenüber dem Vorgänger folgende Möglichkeiten zur Spannungsversorgung:
- Durch einen DC/DC-Wandler als Aufsteckmodul. Mit diesem Modul können dann 4116/4108 Chips getestet werden. Die Spannungsversorgung erfolgt per USB oder per Hohlstecker (6-12V).
- Ohne DC/DC-Wandler, per Hohlstecker (dann muss ein Linearregler bestückt werden).
- Ohne DC/DC-Wandler, per USB.
- Per Terminalblock können die drei Versorgungsspannungen 5V, -5V und 12V auch von z.B. einem PC-Netzteil eingespeist werden. So können ebenfalls 4116/4108 Chips getestet werden.
Wenn keine 4116/4108 Chips getestet werden sollen, spart man so durch Wegfall des DC/DC-Wandlers noch einmal ein paar Euro.
Mit einem Adapter können auch exotische Speicherchips getestet werden, z.B. das SRAM 6810 (128 x 8 Byte im DIP-24 Gehäuse). Die Firmware erlaubt zusätzlich die Identifizierung von über 600 (E)ROMs (z.B. von Commodore oder Sinclair).
Nachdem ich gerade erst die Rev.6 des Speichertesters fertiggestellt hatte, wird es mit der Rev.7 eine weitere Änderung geben: Der DC/DC-Wandler für die drei Versorgungsspannungen wandert in ein Aufsteckmodul. Das Modul hat den Vorteil, dass es entweder durch einen besseren (als den bisher verwendeten) Wandler ersetzt werden kann oder sogar, sollte man keine 4116 testen wollen, ganz entfallen kann.
Seit einem halben Jahr entwickle ich an meinen 
In den 1980er Jahren war er der Renner: Der Commodore 64. Er wurde auf der CES 1982 vorgestellt und Commodore knackt mit ihm den Jackpot. In nur zwei Jahren nach Markteinführung, bricht Commodore alle Rekorde mit 4 Mio. verkauften Rechner weltweit und sogar bis heute ist der C64 der bestverkaufte Heimcomputer mit über 17 Millionen Geräten. Selbst heute noch gibt es zahlreiche Entwicklungen rund um den C64 und im voll im Retro sind derzeit Neuauflagen im Mini-Format, wie das NES Mini, SNES Mini und VCS Mini.
Vor 
Eine weitere Revision ist bereits in Entwicklung: Diese soll komplett auf den Arduino Mega 2560 verzichten, die gesamte Elektronik auf einer Platine haben und zudem SRAMs und DRAMs gleichermaßen testen können (es entfallen also die zwei separaten Platinen für SRAMs und DRAMs).
