Vor drei Monaten stellte ich die Rev. 3 meines Speichertesters für DRAMs vor. Diese benötigte noch ein externes Netzteils um die drei Versorgungsspannungen +12V, +5V und -5V für die 4116 Chips zu erzeugen.
Die Rev. 4 erzeugt die benötigten Versorgungsspannungen nun selbst aus einer Eingangsspannung von ca. 5-12V. Hierzu werden aus der Eingangsspannung zunächst ungefähr 16V und -16V erzeugt, die dann mit Linarreglern auf +12V, +5V und -5V reduziert werden.
Eine weitere Revision ist bereits in Entwicklung: Diese soll komplett auf den Arduino Mega 2560 verzichten, die gesamte Elektronik auf einer Platine haben und zudem SRAMs und DRAMs gleichermaßen testen können (es entfallen also die zwei separaten Platinen für SRAMs und DRAMs).
Es gibt allerdings einen Haken: Das TQFP-100A Gehäuse ist nicht leicht von Hand zu löten.
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Vor drei Monaten stellte ich die Rev. 3 meines Speichertesters für DRAMs vor. Diese benötigte noch ein externes Netzteils um die drei Versorgungsspannungen +12V, +5V und -5V für die 4116 Chips zu erzeugen.
Eine weitere Revision ist bereits in Entwicklung: Diese soll komplett auf den Arduino Mega 2560 verzichten, die gesamte Elektronik auf einer Platine haben und zudem SRAMs und DRAMs gleichermaßen testen können (es entfallen also die zwei separaten Platinen für SRAMs und DRAMs).
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