Speichertester für SRAM und DRAM Chips mit ATmega2560/2561 (Rev. 6)

Seit einem halben Jahr entwickle ich an meinen SRAM- und DRAM-Testern für den Arduino Mega 2560. Jetzt bin ich dazu gekommen die sechste Inkarnation aufzubauen, die folgende Features aufweist:

  • Es ist kein Arduino mehr notwendig.
  • SRAMs und DRAMs können auf einem Board getestet werden.
  • Versorgungsspannungen (12V, 5V und -5V), z.B. für den 4116, werden auf dem Board erzeugt.

Da der ATmega2560 in einem TQFP-100A Gehäuse ausgeliefert wird, habe ich mich entschlossen zwei Designs anzufertigen, eines für einen ATmega2560 und eines für einen ATmega2561. Letzterer wird in einem TQFP-64 Gehäuse geliefert, welches sehr viel einfacher von Hand zu lösten ist.

SRAM-DRAM Tester

Getestet werden können folgende SRAMs:

1k x 1: 2102
1k x 4: 2114, 2148, 2149, 4045, 5114, 6514, C214, U224
1k x 4: 6550
1k x 8: 4118, 4801
2k x 8: 2016, 4016, 4802, 4812, 6116, 6512
8k x 8: 2064, 2464, 6264, 2465
32k x 8: 20256, 61256, 62256, 71256

und diese DRAMs:

4k x 1: 2104A, 4015, 4027, 7027
8k x 1: 4108-x0, 4108-x1
16k x 1: 4116, 2117, 6116, 8116, 416, 2116, 3716, U256
16k x 1: 2118, K565RU6
16k x 4: 4416, 2620
32k x 1: 3732H (4532-L4) und 3732L (4532-L3), 4532
64k x 1: 4164, 2600, K565RU5, 8264, 3764
64k x 4: 4464, 41464, 50464
256k x 1: 41256, 53256, 81256, MT1259 883C
256k x 4: 44256, 514256
1024k x 1: 41024, 411000

Test eines 4416 DRAM

Als Bonus kann über den Inhalt von EPROMs der Typen 2716, 2732, 2764, 27128, 27256 und 27512 eine CRC32 angezeigt werden. Diese kann mit einem vorliegenden ROM-Image verglichen werden, um zu sehen ob der Inhalt identisch ist.

Mehr Informationen zu diesem Projekt sind hier zu finden.

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