Video des Tages: Arbeiten und Leben in der Zukunft (1969)

Wie hat man sich 1969 das Leben und Arbeiten in der Zukunft vorgestellt? In dem kurzen YouTube-Video wird die Vision eines „Internets“ vorgestellt.

„The Internet in 1969“

Wer an Zukunftsvisionen Interesse hat und gerne liest, der sollte sich auch das Buch „Die Welt in 100 Jahren“ ansehen. Wie wir in 100 Jahren leben werden, hat sich auch der Journalist Arthur Brehmer (1858–1923) im Jahre 1910 gefragt, als er zahlreiche Experten seiner Zeit darum bat, ihre Gedanken über die Zukunft in einer kurzen Abhandlung niederzuschreiben. Entstanden ist ein Werk (Link: Amazon), das inhaltlich an vielen Stellen aktuelle technische Entwicklungen beschreibt.

Video: YouTube, Javier Sandoval

Speichertester für SRAM und DRAM Chips mit ATmega2560 (Rev. 7)

Die Rev.7 meines Speichertesters ist seit heute fertiggestellt. Der Tester bietet gegenüber dem Vorgänger folgende Möglichkeiten zur Spannungsversorgung:

  1. Durch einen DC/DC-Wandler als Aufsteckmodul. Mit diesem Modul können dann 4116/4108 Chips getestet werden. Die Spannungsversorgung erfolgt per USB oder per Hohlstecker (6-12V).
  2. Ohne DC/DC-Wandler, per Hohlstecker (dann muss ein Linearregler bestückt werden).
  3. Ohne DC/DC-Wandler, per USB.
  4. Per Terminalblock können die drei Versorgungsspannungen 5V, -5V und 12V auch von z.B. einem PC-Netzteil eingespeist werden. So können ebenfalls 4116/4108 Chips getestet werden.

Wenn keine 4116/4108 Chips getestet werden sollen, spart man so durch Wegfall des DC/DC-Wandlers noch einmal ein paar Euro.

Mit einem Adapter können auch exotische Speicherchips getestet werden, z.B. das SRAM 6810 (128 x 8 Byte im DIP-24 Gehäuse). Die Firmware erlaubt zusätzlich die Identifizierung von über 600 (E)ROMs (z.B. von Commodore oder Sinclair).

Speichertester für SRAM und DRAM Chips mit ATmega2560/2561 (Rev. 7)

Nachdem ich gerade erst die Rev.6 des Speichertesters fertiggestellt hatte, wird es mit der Rev.7 eine weitere Änderung geben: Der DC/DC-Wandler für die drei Versorgungsspannungen wandert in ein Aufsteckmodul. Das Modul hat den Vorteil, dass es entweder durch einen besseren (als den bisher verwendeten) Wandler ersetzt werden kann oder sogar, sollte man keine 4116 testen wollen, ganz entfallen kann.

Die Hauptplatine kann mit oder ohne Aufsteckmodul, verwendet werden. Wird kein Modul verwendet, dann können die drei Versorgungsspannungen (5V, 12V und -5V) alternativ auch direkt eingespeist werden.

Sollen keine 4116 Chips getestet werden, dann kann das Steckmodul entfallen und die Spannungsversorgung erfolgt entweder per USB oder – falls der Linearwandler bestückt ist – per Hohlstecker (6V-12V).

Mit einem Adapter können auch exotische Speicherchips getestet werden, z.B. das SRAM 6810 (128 x 8 Byte im DIP-24 Gehäuse). Als weiteres Feature können nun auch verschiedene (E)(P)ROMs identifiziert werden.