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Seit einem halben Jahr entwickle ich an meinen SRAM- und DRAM-Testern für den Arduino Mega 2560. Jetzt bin ich dazu gekommen die sechste Inkarnation aufzubauen, die folgende Features aufweist:

• Es ist kein Arduino mehr notwendig.
• SRAMs und DRAMs können auf einem Board getestet werden.
• Versorgungsspannungen (12V, 5V und -5V), z.B. für den 4116, werden auf dem Board erzeugt.

Da der ATmega2560 in einem TQFP-100A Gehäuse ausgeliefert wird, habe ich mich entschlossen zwei Designs anzufertigen, eines für einen ATmega2560 und eines für einen ATmega2561. Letzterer wird in einem TQFP-64 Gehäuse geliefert, welches sehr viel einfacher von Hand zu lösten ist.

Getestet werden können folgende SRAMs:

1k x 1: 2102
1k x 4: 2114, 2148, 2149, 4045, 5114, 6514, C214, U224
1k x 4: 6550
1k x 8: 4118, 4801
2k x 8: 2016, 4016, 4802, 4812, 6116, 6512
8k x 8: 2064, 2464, 6264, 2465
32k x 8: 20256, 61256, 62256, 71256

und diese DRAMs:

4k x 1: 2104A, 4015, 4027, 7027
8k x 1: 4108-x0, 4108-x1
16k x 1: 4116, 2117, 6116, 8116, 416, 2116, 3716, U256
16k x 1: 2118, K565RU6
16k x 4: 4416, 2620
32k x 1: 3732H (4532-L4) und 3732L (4532-L3), 4532
64k x 1: 4164, 2600, K565RU5, 8264, 3764
64k x 4: 4464, 41464, 50464
256k x 1: 41256, 53256, 81256, MT1259 883C
256k x 4: 44256, 514256
1024k x 1: 41024, 411000

Als Bonus kann über den Inhalt von EPROMs der Typen 2716, 2732, 2764, 27128, 27256 und 27512 eine CRC32 angezeigt werden. Diese kann mit einem vorliegenden ROM-Image verglichen werden, um zu sehen ob der Inhalt identisch ist.

Mehr Informationen zu diesem Projekt sind hier zu finden.