Chiptester Professional für SRAMs und DRAMs

Von einigen Projekten habe ich noch unbestückte Platinen vorrätig. Bei Interesse gebe ich diese gerne zum Selbstkostenpreis ab (⇒Kontaktformular).

Für Fragen zum Tester bin ich ebenfalls über das Kontaktformular erreichbar, aber auch in verschiedenen Forum, wie dem Support-Forum des 8Bit-Museum.de (erst seit Mitte September online).

Für den „Chip Tester Professional“ wurde die Hardware komplett neu entwickelt. Die Firmware entspricht weitestgehend der Rev.7 bzw. 8, sie wurde aber leicht erweitert. Beide Tester können SRAMs, DRAMs und TTL/CMOS Logik-ICs testen und (E)(P)ROMs identifizieren und auslesen. Der Hauptunterschied zwischen den Testern sind die fehlenden Schalter der Pro-Version.

Anleitung und Kompatibilitätslisten

Anleitung Rev.1 (Deutsch)
Manual Rev.1 (English)
Übersicht DRAMs / Overview DRAMs
Übersicht SRAMs / Overview SRAMs
Übersicht ROMs, PROMs, etc. / Overview ROMs, PROMs, etc
Übersicht Logic ICs / Overview Logic ICs

Chip Tester Professional (Rev.1)

Die Rev.1 des komplett überarbeiteten Chip-Testers (vormals „SRAM/DRAM Speichertester“) verzichtet auf die in der Rev.8 noch vorhandenen Schalter. Dadurch ist die Einstellung der korrekten Versorgungsspannung ein wenig einfacher. Die Komplexität der Platine erhöht sich dafür aber von bisher knapp 60 auf über 200 Komponenten, ist aber dennoch ein wenig kompakter geworden.

Der Tester bietet (wie bisher) folgende Möglichkeiten zur Spannungsversorgung:

  1. Durch einen DC/DC-Wandler als Aufsteckmodul. Mit diesem Modul können dann 4116/4108 Chips getestet werden. Die Spannungsversorgung erfolgt per USB oder per Hohlstecker (6-12V).
  2. Ohne DC/DC-Wandler, per Hohlstecker (dann muss ein Linearregler bestückt werden).
  3. Ohne DC/DC-Wandler, per USB.
  4. Per Terminalblock können die drei Versorgungsspannungen 5V, -5V und 12V auch von z.B. einem PC-Netzteil eingespeist werden. So können ebenfalls 4116/4108 Chips getestet werden.

Wenn keine 4116/4108 DRAMs bzw. 2704/2708 EPROMs getestet werden sollen, spart man durch Wegfall des DC/DC-Wandlers noch einmal ein paar Euro.

YouTube: Vorstellung Chip Tester Professional Rev.1

Getestet werden können folgende (und Pin-kompatible) SRAMs:

16×4: D3101, 7489, 74189, 74219, …
64×9: 82S09, 93419, …
128×8: 6810, …
256×1: 8216, 2116, 8217, 2700, 2701, 3106, 3107 …
256×4: D2101A, D2111, D2112A, …
256×8: 81C50, 81C51
1k x 1: 2102, 8102, 2115, 2511, …
1k x 4: 2114, 2148, 2149, 4045, 5114, 6514, C214, U224, …
1k x 4: 6550
1k x 8: 4118, 4801, 8185, …
2k x 8: 2016, 2416, 4016, 4802, 4812, 6116, 6512, …
4k x 1: 2147, MK4104, …
4k x 4: 7C168, 6168, 5416, P4C168, P4C169, …
8k x 8: 2064, 2464, 6264, 2465, …
16k x 1: 8167, 6267, 6167, 2167, P4C167, …
16k x 4: P4C188, P4C198, …
32k x 8: 20256, 61256, 62256, 71256, …
64k x 1: P4C187, …
64k x 4: P4C1258, P4C1281, P4C1298, …
64k x 8: 61512, 24512
128k x 8: 621024, 431000
256k x 1: P4C1257, …
256k x 4: P4C1026, …

und diese (und Pin-kompatible) DRAMs:

4k x 1: 2104A, 4015, 4027, 7027, 2107, …
8k x 1: 4108-x0, 4108-x1, 2108H, 2108L
16k x 1: 4116, 2117, 6116, 8116, 416, 2116, 3716, U256, …
16k x 1: 2118, K565RU6, …
16k x 4: 4416, 2620
32k x 1: 3732H (4532-L4) und 3732L (4532-L3), 4532
64k x 1: 4164, 2600, K565RU5, 8264, 3764, …
64k x 4: 4464, 41464, 50464, …
256k x 1: 41256, 53256, 81256, MT1259, …
256k x 4: 44256, 514256, …
1024k x 1: 41024, 411000, …
256k x 8: SIMM und SIPP
1024k x 8: SIMM und SIPP

Außerdem können 30-polige SIMM und SIPP Module (über einen Adapter) getestet werden. Da der Test recht langsam ist, werden aktuell nur 256k x 8 (256 kByte) und 1024k x 8 (1 MByte) Module unterstützt. Sollte es sich um Speichermodule mit Parity handeln, kann dieser Speicher ebenfalls getestet werden.

Die Firmware erlaubt zusätzlich die Identifizierung von über 2400 (E)(P)ROMs (z.B. von Commodore, Sinclair und anderen Herstellern). Hier werden folgende Chips unterstützt:

(P)ROM: 2308, 2316, 2332, 2364, 23128, 23256, 23512, 231000/231001, 232000, 234000, 6540
EPROM: 2704, 2708, 2716, TMS2716, 2732, 2764, 27128, 27256, 27512, 271001, 272001, 274001
bipolare (P)ROM: 7488, 188, 288, 187, 287, 387, S271, S371, 470, 471, S270, S370, 570, 571, 472, 473, 476, 477, 572, 573, S450, S451, 82S23, 82S123, 82S126, 82S129, 93426, 93427, K155PE23, HM-7648, HM-7649 (nicht getestet)

Schließt man einen günstigen Micro-SD-Kartenadapter an den Chip-Tester an, kann der Inhalt der Speicherbausteine auch auf einer SD-Karte gespeichert werden. Der Kartenadapter wird hierzu mit einem einfachen Kabel am ISP Anschluss angeschlossen. Es wird eine Binärdatei mit dem Inhalt des Speicherchips erzeugt. Ist das ROM bekannt, wird zudem eine Textdatei mir den bekannten Informationen angelegt.

Es ist auch möglich Logik-Bausteine zu testen. Aktuell sind folgende Bausteine implementiert (nicht alle wurden bisher getestet):

7400, 01, 02, 03, 04, 05, 06, 07, 08, 09, 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19, 20, 21, 22, 23, 24, 25, 26, 27, 28, 30, 31, 32, 33, 34, 35, 37, 38, 39, 40, 41, 42, 43, 44, 45, 46, 47, 48, 49, 50, 51, 52, 53, 54, 55, 58, 60, 61, 62, 64, 65, 73, 74, 75, 76, 85, 86, 90, 92, 93, 95, 107, 109, 112, 113, 114, 123, 125, 126, 128, 131, 132, 133, 134, 135, 136, 137, 138, 139, 140, 141, 145, 147, 148, 149, 150, 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 160, 161, 162, 163, 164, 165, 166, 168, 169, 170, 173, 174, 175, 180, 181, 182, 183, 190, 191, 192, 193, 194, 195, 237, 238, 240, 241, 242, 243, 244, 245, 246, 247, 248, 249, 251, 253, 257, 258, 259, 260, 265, 266, 280, 283, 292, 293, 294, 298, 299, 365, 366, 367, 368, 373, 374, 375, 377, 378, 386, 390, 393, 425, 426, 445, 465, 466, 467, 468, 521, 540, 541, 573, 589, 595, 597, 640, 641, 642, 644, 645, 670, 688, 75189

4000, 01, 02, 08, 09, 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19, 20, 21, 22, 23, 24, 25, 27, 28, 29, 30, 31, 40, 41, 42, 43, 44, 48, 49, 50, 51, 52, 53, 66, 68, 69, 70, 71, 72, 73, 75, 76, 77, 78, 81, 82, 93, 94, 99, 101, 106, 161, 162, 174, 175, 192, 193

4501, 02, 03, 06, 10, 11, 12, 18, 19, 20, 29, 32, 43, 72

DL000, 002, 003, 004, 008, 010, 011, 014, 020, 021, 030, 032, 037, 038, 040, 051, 074, 086, 090, 093, 112, 123, 132, 155, 164, 175, 192, 193, 194, 251, 253, 257, 259, 374, 540, 541, 299

153-555: AG3, AP3, AP4, AP5, AP6, AP9, AP14, AP15, ID3, ID4, ID5, ID6, ID7, ID10, ID14, ID18, IE2, IE4, IE5, IE6, IE7, IE9, IE10, IE11, IE12, IE13, IE16, IE17, IE18, IE19, IM6, IM7, IP2, IP3, IP4, IP5, IP6, IP7, IR1, IR8, IR9, IR10, IR11, IR12, IR15, IR22, IR23, IR24, IR26, IR27, IR30, IR32, IR33, IV1, IV3, KP1, KP2, KP5, KP7, KP11, KP12, KP13, KP14, KP15, KP16, KP18, A1, LA2, LA3, LA4, LA6, LA7, LA8, LA9, LA10, LA11, LA12, LA13, LA16, LA19, LE1, LE2, LE3, LE4, LE5, LE7, LE11, LI1, LI2, LI3, LI4, LI6, LI9, LL1, LN1, LN2, LN3, LN5, LN6, LN7, LP5, LP8, LP9, LP10, LP11, LP12, LP13, LR1, LR4, LR9, LR10, LR11, LR13, SP1, TL1, TL2, TL3, TM2, TM7, TM8, TM9, TM10, TV6, TV9, TV10, TV11, TV15

561: ID1, ID23, IE1, IE8, IE9, IE10, IE14, IE16, IE19, IE20, IE21, IM1, IR2, IR4, IR14, KP1, KP2, KP3, KP4, KP5, KT1, KT3, LA7, LA8, LA9, LE5, LE6, LE10, LI2, LN1, LN2, LN3, LP2, LP14, LS2, PR1, PW1, PW7, TL1, TM2, TM3, TR2, TV1

Die Logikfamilie spielt (fast) keine Rolle, da der Tester die Logik testet, keine technischen Spezifikationen, und die Spannungsversorgung 5V beträgt. Somit sollten aus der 74xxx-Serie die folgenden Varianten getestet werden: Standard-TTL (kein Buchstabe), L, H, S, LS, AS, ALS, F, HC, HCT, AC, ACT.

Einige Chips sind nach ihren Datenblättern implementiert und bisher nicht getestet. Hier würde ich mich sehr über Rückmeldung freuen, ob der Test korrekt funktioniert.


Aktuelle Firmware Pro Rev.1

Die aktuelle Firmware für die Pro Rev.1 kann hier heruntergeladen werden. Die Archive enthalten nur die Binärdateien, die per ISP-Brenner geschrieben werden können. Es sind keine Source-Files enthalten!

Changelog - Aktuell v0.12
  • WIP: v0.13 – PAL feature added, 272001 and 274001 added, 8185 added, fixed an initialization bug when chip has #RAS<#CAS (e.g. 2108)
  • v0.12 – internal changes acc. supported chip profiles, „remember chip“ corrected, SIPP/SIMM 1024k x 8 and 256k x 8 added (30 pins, with and without parity)
  • v0.11 – 4164 timing changed (CAS precharge time increased), 74187 fixed, several bipolar ROMs added, progress bar while saving random data added, 82S09 (menu shows 28 pins, not 24 pins), 4-bit ROMs will also recognized as empty, search DB improved, March Y test added, a few display fixes, 2107 pull down for non active CE (chip can be tested now), TMS2716 added
  • v0.10 – SD Card support added, 2107/2108 timing changed, cyrillic characters in TTL menu, „calculating“ or „saving“ in ROM identifier, progress bar for SRAM tests, nicer progress bar, 7488, 74187, 74271 added, config_dump added
  • v0.9 – ROM DB update (2405 entries), xx1024 timings changed, Active LED (DRAM tests), 41256 timing changed
  • v0.8a – Forgot to set a precompiler (RELEASE) flag, so the ROM database was not included
  • v0.8 – Search function added, Active LED for TTL tests, some improvements
  • v0.7 – improved responsiveness, 16k x 1 SRAM (x167) added, 4k x 4 SRAM (x168) added, DSA fixed, 232000/234000 added, key handling improved, lots of Pyramid chips implemented (currently all untested because I do not own them)
  • v0.6 – Signal after selftest added, Alphatronic, Philips ROMs u.a. added, chip type added to menu, 4014 fixed(?), xx256/512/1024 fixed
  • v0.5 – JIT compiler added (SRAM only), DSA fixed, important Chips logic changed
  • v0.4 – xx256/xx512/xx1024 SRAM fast mode (2 instead of 9 minutes), D2142 added, 82S09/93419 added
  • v0.3 – new Kernel, 2704/2708 added, TMS4132 added, 450 EPROMs can be identified, ST7920 display added, display output improved
  • v0.2 – xxx1024 added
  • v0.1 – first version, SRAMs, DRAMs, EPROMs implemented, 4164: optinal „Early Write“
Pro Rev.1 - v0.12
Pro Rev.1 - v0.11
Pro Rev.1 - v0.10

Hier befinden sich einige weitere optionale Dateien.

Gerber for SIMM/SIPP-Adapter