Eingestellte Projekte

Es gibt eine neue Version des Speichertesters. – Dieser Tester wird nicht mehr weiterentwickelt.

Hier geht es zum Retro Chip Tester Professional!

Von einigen Projekten habe ich noch unbestückte Platinen vorrätig. Bei Interesse gebe ich diese gerne zum Selbstkostenpreis ab (⇒Kontaktformular).

SRAM/DRAM Speichertester (Rev.8)

Als Erweiterung zur Rev.7 kann ein ZIF-32 Sockel für SRAM und EPROMs verwendet werden, anstelle eines ZIF-28 Sockels. Mit dem ZIF-32-Sockel können

64k x 8 SRAMs (61512, 24512, …),
128k x 8 SRAMs (621024, 431000, …),
128k x 8 EPROMs (271001)
256k x 8 ROMs (232000)
512k x 8 ROMs (234000)

getestet bzw. die CRC32 berechnet werden. Zusätzlich wurde der Displayanschluss leicht nach unten versetzt.

Alle anderen Funktionen sind identisch mit der Rev.7. Es wird für die Tester der Rev.6, Rev.7 und Rev.8 dieselbe Firmware verwendet. Die Platinen der Rev.7 und Rev.8 verwenden das selbe Aufsteckmodul, um die zusätzlichen Versorgungsspannungen zu erzeugen.


SRAM/DRAM Speichertester (Rev.7)

Die Rev.7 meines Speichertesters bietet gegenüber dem Vorgänger folgende Möglichkeiten zur Spannungsversorgung:

  1. Durch einen DC/DC-Wandler als Aufsteckmodul. Mit diesem Modul können dann 4116/4108 Chips getestet werden. Die Spannungsversorgung erfolgt per USB oder per Hohlstecker (6-12V).
  2. Ohne DC/DC-Wandler, per Hohlstecker (dann muss ein Linearregler bestückt werden).
  3. Ohne DC/DC-Wandler, per USB.
  4. Per Terminalblock können die drei Versorgungsspannungen 5V, -5V und 12V auch von z.B. einem PC-Netzteil eingespeist werden. So können ebenfalls 4116/4108 Chips getestet werden.

Wenn keine 4116/4108 Chips getestet werden sollen, spart man so durch Wegfall des DC/DC-Wandlers noch einmal ein paar Euro.

Getestet werden können folgende (und Pin-kompatible) SRAMs:

16×4: D3101, 7489, 74189, 74219, …
64×9: 82S09, 93419, …
128×8: 6810, … (mit Adapter)
256×1: 8216, 2116, 8217, 2700, 2701, 3106, 3107 …
256×4: D2111, D2112A, …
256×4: D2101A, … (mit Adapter)
1k x 1: 2102, 8102, 2115, 2511, …
1k x 4: 2114, 2148, 2149, 4045, 5114, 6514, C214, U224, …
1k x 4: 6550
1k x 8: 4118, 4801
2k x 8: 2016, 2416, 4016, 4802, 4812, 6116, 6512, …
4k x 1: 2147, MK4104, …
8k x 8: 2064, 2464, 6264, 2465, …
32k x 8: 20256, 61256, 62256, 71256, …

und diese (und Pin-kompatible) DRAMs:

4k x 1: 2104A, 4015, 4027, 7027, …
8k x 1: 4108-x0, 4108-x1, 2108H, 2108L
16k x 1: 4116, 2117, 6116, 8116, 416, 2116, 3716, U256, …
16k x 1: 2118, K565RU6, …
16k x 4: 4416, 2620
32k x 1: 3732H (4532-L4) und 3732L (4532-L3), 4532
64k x 1: 4164, 2600, K565RU5, 8264, 3764, …
64k x 4: 4464, 41464, 50464, …
256k x 1: 41256, 53256, 81256, MT1259, …
256k x 4: 44256, 514256, …
1024k x 1: 41024, 411000, …

Mit einem Adapter können auch exotische Speicherchips getestet werden, z.B. das SRAM 6810 (128 x 8 Byte im DIP-24 Gehäuse). Die Firmware erlaubt zusätzlich die Identifizierung von über 1700 (E)ROMs (z.B. von Commodore, Sinclair und anderen Herstellern). Einige Chips sind nach ihren Datenblättern implementiert und bisher nicht getestet. Hier würde ich mich sehr über Rückmeldung freuen, ob der Test korrekt funktioniert.

Ab Firmware v1.9 ist es möglich auch Logik-Bausteine zu testen.


SRAM/DRAM Speichertester (Rev.6)

Die sechste Inkarnation der Speichertester ist der SRAM/DRAM Speichertester, der folgende Features aufweist:

  • Es ist kein Arduino Mega mehr notwendig.
  • SRAMs und DRAMs können auf einem Board getestet werden.
  • Die Versorgungsspannungen (12V, 5V und -5V), z.B. für den 4116, werden auf dem Board erzeugt.
  • Die Spannungsversorgung erfolgt über Micro-USB oder über einen 5mm Connector (5V bis 12V).

Da der ATmega2560 in einem TQFP-100A Gehäuse ausgeliefert wird, gibt es gleich zwei Designs: Eines für einen ATmega2560 und eines für einen ATmega2561. Letzterer wird in einem TQFP-64 Gehäuse geliefert, welches sehr viel einfacher von Hand zu lösten ist.

Mehr Informationen zu diesem Projekt sind hier zu finden. Diese Version ist nicht mehr verfügbar.


DRAM Speichertester (Rev.3 und Rev.4)

Mit dem DRAM Speichertester erspart man sich das mühselige Durchprobieren von alten Speicherchips, sollte ein Computer einen Speicherfehler aufweisen.

Viele der alten Speicherchips lassen sich in aktuellen USB-Programmer nicht mehr testen, weshalb ich eine eigene Lösung entwickelt habe, die auf einem Arduino Mega 2560 basiert.

Getestet werden können folgende Chips:

4k x 1: 2104A, 4015, 4027, 7027
8k x 1: 4108-x0, 4108-x1
16k x 1: 4116, 2117, 6116, 8116, 416, 2116, 3716, U256
16k x 1: 2118, K565RU6
16k x 4: 4416, 2620
32k x 1: 3732H (4532-L4) und 3732L (4532-L3), 4532
64k x 1: 4164, 2600, K565RU5, 8264, 3764
64k x 4: 4464, 41464, 50464
256k x 1: 41256, 53256, 81256, MT1259 883C
256k x 4: 44256, 514256
1024k x 1: 41024, 411000

Theoretisch sollten auch alle anderen DRAMs getestet werden können, die eine identische Pinbelegung besitzen. Damit auch 4116 Chips getestet werden können, besitzt das Shield bis zur Rev.3 eine Pfostenleiste für die Versorgungsspannungen +5V, +12V und -5V.

Bei der Rev.4 ist ein DC/DC-Spannungswandler für die Spannungen +12V und -5V integriert (rechts zu sehen, die Rev.3 ohne Spannungswandler).

Mehr dazu in diesem und diesem Bericht.


SRAM Speichertester (Rev.3)

Mit dem SRAM Speichertester erspart man sich das mühselige Durchprobieren von alten Speicherchips, sollte ein Computer einen Speicherfehler aufweisen.

Viele der alten Speicherchips lassen sich in aktuellen USB-Programmer nicht mehr testen, weshalb ich eine eigene Lösung entwickelt habe, die auf einem Arduino Mega 2560 basiert.

Getestet werden können folgende Chips:

1k x 1: 2102
1k x 4: 2114, 2148, 2149, 4045, 5114, 6514, C214, U224
1k x 4: 6550
1k x 8: 4118, 4801
2k x 8: 2016, 4016, 4802, 4812, 6116, 6512
8k x 8: 2064, 2464, 6264, 2465
32k x 8: 20256, 61256, 62256, 71256

Theoretisch sollten auch alle anderen SRAMs getestet werden können, die eine identische Pinbelegung besitzen.

Als Bonus kann über den Inhalt von EPROMs der Typen 2716, 2732, 2764, 27128, 27256 und 27512 eine CRC32 angezeigt werden. Diese kann mit einem vorliegenden ROM-Image verglichen werden, um zu sehen ob der Inhalt identisch ist.

Ab Firmware v1.2 ist es möglich auch Logik-Bausteine zu testen.

Mehr dazu in diesem Bericht.


Aktuelle Firmware Rev.6, Rev.7 und Rev.8

Die aktuelle Firmware für die Rev.6, Rev.7 und Rev.8 kann hier heruntergeladen werden. Die Archive enthalten nur die Binärdateien, die per ISP-Brenner geschrieben werden können. Es sind keine Source-Files enthalten!

Changelog - Aktuell v1.15
  • v1.15 – DB updates, xx1024 timing changed, 41256 timing changed
  • v1.14 – DB updates (2405 entries), xx1024 timing changed, 41256 timing changed
  • v1.13 – a few cosmetic fixes, 232000/234000 added
  • v1.12 – roms added (e.g. Alphatronic PC), xx256/512/1024 fixed, improved responsiveness
  • v1.11 – new core, xx1024 (128k x 8) SRAM added, 450 EPROMs can be identified, improved output, xx256/xx512/xx1024 SRAM fast mode (0,5-2 minutes instead of 2-9 minutes), 83S09/93419 added, DSA fixed
  • v1.10 – Over 380 TTL checks implemented, over 1800 ROMs in database
  • v1.9 – Over 370 TTL checks implemented.
  • v1.8 – Config menu added (enable/disable: random tests, pullups for SRAMs and DRAMs), D2111 added.
  • v1.7 – Random test pattern added, reading digital signature fixed, some minor improvements
  • v1.6 – D2104/MK4015 fixed, Adapter #2 for D2101A, Adapter #3 for reading Electronic Signature (2764-27512), some internal improvements
  • v1.5 – Behavior of /OE for SRAM/EPROM changed, reading of 23128 changed (CS3 set to HIGH), D3101/7489/74189 and 74219 added
  • v1.4 – Adapter #1 for 256×4 und 256×8, 2112A added, larger chip database
  • v1.3 – Check if EPROM is empty, major changes (stores menu and chips data in flash), chip database added
  • v1.2 – New menu structure, adapter socket added
  • v1.1 – Added help acc. relevant switches, 2147 added, 3rd switch added
  • v1.0 – Working version
Rev.8 / Rev.7 / Rev.6 - v1.15

Aktuelle Firmware Rev.3 (SRAM/DRAM) und Rev.4 (DRAM)

Die aktuelle Firmware für die Rev.3 und Rev.4 kann hier heruntergeladen werden. Die Archive enthalten nur die Binärdateien, die per USB-Anschluss oder ISP-Brenner geschrieben werden können. Es sind keine Source-Files enthalten!

Changelog DRAM- Aktuell v1.1
  • v1.1 – Minor changes
  • v1.0 – Working version
DRAM - Rev.3, Rev.4 - v1.1
Changelog SRAM- Aktuell v1.2
  • v1.2 – TTL Logic Tests (74xx) added (no 40xx-Tests and no Russian Logic ICs)
  • v1.1 – Minor changes
  • v1.0 – Working version
SRAM - Rev.3 - v1.2